Silizium-Halbleitertechnologie

Grundlagen mikroelektronischer Integrationstechnik
Buch | Softcover
XI, 263 Seiten
2014 | 6., korr. und verb. Aufl. 2014
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH (Verlag)
978-3-8348-1335-0 (ISBN)

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Silizium-Halbleitertechnologie - Ulrich Hilleringmann
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Grundlage der mikroelektronischen Integrationstechnik ist die Silizium-Halbleitertechnologie. Sie setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchführung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen genügen müssen, um die geforderten Strukturgrößen bis zu wenigen 10 nm gleichmäßig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, Ätzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht des Anwenders erläutert. Das Lehrbuch behandelt neben den Grundlagen auch die technische Durchführung der Einzelprozesse zur Integrationstechnik.
Ein Lehrbuch zu den grundlegenden Verfahren der Mikroelektronik und Integrationstechniken. Grundlage der mikroelektronischen Integrationstechnik ist die Silizium-Halbleitertechnologie. Sie setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchführung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen genügen müssen, um die geforderten Strukturgrößen bis zu wenigen 10 nm gleichmäßig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, Ätzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht des Anwenders erläutert. Das Buch behandelt neben den Grundlagen auch die technische Durchführung der Einzelprozesse zur Integrationstechnik.

In der 6. Auflage ...

Prof. Dr.-Ing. Ulrich Hilleringmann ist Leiter des Fachgebietes Sensorik an der Universität Paderborn und lehrt Halbleitertechnologie, Messtechnik, Sensorik und Prozessmesstechnik.

Herstellung von Siliziumscheiben - Oxidation des dotierten Siliziums - Lithografie - Ätztechnik - Dotiertechniken - Depositionsverfahren - Metallisierung und Kontakte - Scheibenreinigung - MOS-Technologien zur Schaltungsintegration - Erweiterungen zur Höchstintegration - Bipolar-Technologie - Montage integrierter Schaltungen - Atomic Layer Deposition

Erscheint lt. Verlag 23.9.2014
Zusatzinfo XI, 263 S. 160 Abb. Mit 37 Aufgaben und Lösungen.
Verlagsort Wiesbaden
Sprache deutsch
Maße 168 x 240 mm
Gewicht 476 g
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte 10 nm • Anforderung • Anwender • Atomic • Ätzschritt • Ätztechnologie • Ausstattungen • Bipolar • Bipolarschaltung • Bipolartechnik • Bipolar-Technologie • Chip • Chipherstellung • Depositionsverfahren • Development • Dielektrika • Dielektrikum • dotiert • Dotiertechnik • Dotiertechniken • Dotierung • Dotierungstechnik • Dotierungstechniken • Dotierungstechnologie • Dotierungstechnologien • Einzelprozess • Elektronisch • Entwicklung • Halbleiter • Halbleitertechnologie • Hardware • Herstellung • High-k-Dielektrikum • Höchstintegration • Implantation • Integration • Integrationstechniken • Integrationstechniker • Integriert • Layer • Lithografie • Messtechnik • Metallisierung • Mikro • Mikroelektronik • mikroelektronisch • Montage • Montagetechnik • Montagetechnologie • MOS • MOS-Schaltung • MOS-Technologie • MOS-Technologien • nanometer • Naturwissenschaft • Optische Lithografie • Oxidationen • PECVD • PECVD-Abscheidung • Physik • Physiker • Prozess • Prozesse • Prüfung • R&D • reproduzierbar • Rohsilizium • Schaltung • Schaltungen • Sensoren • Sensorik • Silicium • Silicium / Silizium • Silizium • Silizium-Halbleitertechnologie • Siliziumscheibe • Siliziumscheiben • Struktur • Strukturgröße • Systeme • technisch • Technologie • Verfahren
ISBN-10 3-8348-1335-4 / 3834813354
ISBN-13 978-3-8348-1335-0 / 9783834813350
Zustand Neuware
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