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Elektrotechnik / Energietechnik

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
von Stefan Rein
Buch | Hardcover
2005 | Auflage: 1 | Springer Berlin
ISBN: 9783540253037
320,99 (inkl. MwSt)
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Accelerating Computation with Field-Programmable Gate Arrays
von Maya B. Gokhale; Paul S. Graham
Buch | Hardcover
2005 | Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9780387261058
160,49 (inkl. MwSt)
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