IEEE International Reliability Physics Symposium
Seiten
2002
|
Revised edition
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-7352-5 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-7352-5 (ISBN)
- Keine Verlagsinformationen verfügbar
- Artikel merken
This CD-ROM originates from the 2002 IEEE International Reliability Physics Symposium, and is concerned with electron devices. Its contents include: non volatile memory; dielectrics; hot carriers; assembly/packaging; device dielectrics; interconnects; product reliability; and device and process.
Non Volatile Memory; Dielectrics; Hot Carriers; Assembly/Packaging; Device Dielectrics; Device & Process; Interconnects; Non Volatile Memory; Product Reliability; Compound Semiconductor Failure Analysis
| Erscheint lt. Verlag | 31.5.2002 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Maße | 216 x 279 mm |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Angewandte Physik |
| Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
| ISBN-10 | 0-7803-7352-9 / 0780373529 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-7352-5 / 9780780373525 |
| Zustand | Neuware |
| Haben Sie eine Frage zum Produkt? |
Mehr entdecken
aus dem Bereich
aus dem Bereich
mit vollständigen Lösungen
Buch | Softcover (2024)
Springer Vieweg (Verlag)
44,99 €
Faszinierendes aus der Astroforschung
Buch | Softcover (2023)
Springer (Verlag)
34,99 €
