Blick ins Buch

Modelldiagnose in der Bayesschen Inferenz

Reinhard Vonthein (Autor)

Buch | Softcover

149 Seiten

1999
Peter Lang Gmbh, Internationaler Verlag Der Wissenschaften
978-3-631-34610-5 (ISBN)

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Die Modelldiagnose in der linearen Regression und anderen statistischen Modellen entwickelt sich zu einem wirkungsvollen Instrument der Statistik mit originellen Ideen und Maßen. Der Sensitivitätsanalyse der klassischen Inferenz stellt der Autor Bayessche Ansätze gegenüber. Behandelt werden die Regressionsdiagnose, Diagnose in MCMC-Modellen und allgemeine Probleme der Modelldiagnose. Im Mittelpunkt der neuen Forschungsergebnisse stehen Bayessche Ausreißertests und fortgeschrittene Ausreißermodelle.

Der Autor: Reinhard Vonthein wurde 1966 in Hamburg geboren. 1986 begann er mit dem Studium der Statistik an der Universität München. Nach dem Diplom 1993 folgte eine Anstellung an der Universität Basel. Promotion 1998.

Aus dem Inhalt: Gegenüberstellung von Sensitivitätsanalyse der klassischen Inferenz und Bayesscher Ansätze - Regressionsdiagnose, Diagnose in MCMC-Modellen, allgemeine Probleme der Modelldiagnose - Im Mittelpunkt der neuen Forschungsergebnisse: Bayessche Ausreißertests und fortgeschrittene Ausreißermodelle.

Erscheint lt. Verlag	1.5.1999
Reihe/Serie	Anwendungsorientierte Statistik ; 4
Verlagsort	Frankfurt a.M.
Sprache	deutsch
Maße	148 x 210 mm
Gewicht	210 g
Themenwelt	Informatik ► Datenbanken ► Data Warehouse / Data Mining
	Mathematik / Informatik ► Mathematik ► Wahrscheinlichkeit / Kombinatorik
	Wirtschaft
Schlagworte	bayesschen • Inferenz • Modelldiagnose • Vonthein
ISBN-10	3-631-34610-7 / 3631346107
ISBN-13	978-3-631-34610-5 / 9783631346105
Zustand	Neuware