Zuverlässigkeit und Entwurf

3. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart

Buch | Softcover

176 Seiten

2009
VDE VERLAG
978-3-8007-3178-7 (ISBN)

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keine Neuauflage

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Die Tagung „Zuverlässigkeit und Entwurf“ (ZuE) wird 2009 in Stuttgart mit besonderer Ausrichtung auf neue technologische Herausforderungen in Zusammenarbeit mit der Kooperationsgemeinschaft Rechnergestützter Schaltungs- und Systementwurf (RSS) durchgeführt. Zu diesen Herausforderungen gehören beispielsweise Entwurf und Test zuverlässiger 3-D integrierter Systeme, analoge Schaltungen in Nanometer CMOS oder zuverlässige Performance/Power-Selbstkalibrierung.

Erscheint lt. Verlag	9.10.2009
Reihe/Serie	GMM-Fachbericht ; 61
Sprache	englisch; deutsch
Maße	148 x 210 mm
Gewicht	504 g
Einbandart	kartoniert
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte	CMOS • Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik • IT-System • Mikroelektronik • Nanoelektronik • Schaltung • Transistor
ISBN-10	3-8007-3178-9 / 3800731789
ISBN-13	978-3-8007-3178-7 / 9783800731787
Zustand	Neuware