Managing Temperature Effects in Nanoscale Adaptive Systems (eBook)
XXII, 174 Seiten
Springer New York (Verlag)
978-1-4614-0748-5 (ISBN)
This book discusses new techniques for detecting, controlling, and exploiting the impacts of temperature variations on nanoscale circuits and systems. A new sensor system is described that can determine the temperature dependence as well as the operating temperature to improve system reliability. A new method is presented to control a circuit's temperature dependence by individually tuning pull-up and pull-down networks to their temperature-insensitive operating points. This method extends the range of supply voltages that can be made temperature-insensitive, achieving insensitivity at nominal voltage for the first time.
This book discusses new techniques for detecting, controlling, and exploiting the impacts of temperature variations on nanoscale circuits and systems. A new sensor system is described that can determine the temperature dependence as well as the operating temperature to improve system reliability. A new method is presented to control a circuit's temperature dependence by individually tuning pull-up and pull-down networks to their temperature-insensitive operating points. This method extends the range of supply voltages that can be made temperature-insensitive, achieving insensitivity at nominal voltage for the first time.
The Role of Temperature in Electronic Design.- Temperature Effects in Semiconductors.- Sensing Temperature Dependence.- Variation-Tolerant Adaptive Voltage Systems.- Controlling the Temperature Dependence.- Exploiting Temperature Dependence in Low-Swing Interconnect Links.- Avoiding Temperature-Induced Errors in On-Chip Interconnects.- Future Work and Open Problems.
Erscheint lt. Verlag | 31.8.2011 |
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Zusatzinfo | XXII, 174 p. |
Verlagsort | New York |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Technik ► Nachrichtentechnik | |
Schlagworte | Embedded Systems • Integrated Circuit Design • On-Chip Interconnect • Temperature-Induced Errors • Temperature in Semiconductors • Thermal management in Integrated Circuits • Variation-Tolerant Adaptive Voltage Systems |
ISBN-10 | 1-4614-0748-6 / 1461407486 |
ISBN-13 | 978-1-4614-0748-5 / 9781461407485 |
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