2001 IEEE International Reliability Physics Symposium
2001
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-6589-6 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-6589-6 (ISBN)
- Keine Verlagsinformationen verfügbar
- Artikel merken
Based on the 2001 IEEE International Reliability Physics Symposium, this electronic reference covers such topics as: device and process; device dielectrics; assembly and packaging; channel hot carriers; interconnects; ESD and latch-up; process induced damage; and failure analysis.
| Erscheint lt. Verlag | 31.5.2001 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-7803-6589-5 / 0780365895 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-6589-6 / 9780780365896 |
| Zustand | Neuware |
| Haben Sie eine Frage zum Produkt? |
