Microelectronic Failure Analysis Desk Reference
Seiten
2002
|
4th Revised edition
ASM International (Verlag)
978-0-87170-769-7 (ISBN)
ASM International (Verlag)
978-0-87170-769-7 (ISBN)
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Provides new or expanded coverage on the latest techniques for microelectronic failure analysis. The CD-ROM includes the complete content of the book in fully searchable Adobe Acrobat format. Developed by the Electronic Device Failure Analysis Society (EDFAS) Publications Committee. Contents: Submicron Defect Analysis Failure Analysis of Microelectromechanical Systems (MEMS) Leading Edge Circuit Board Fault Localization/Failure Analysis Failure Analysis of Passive Components/Hybrid Components List of Microelectronic Failure Analysis Acronyms (updated) Key Word Index to ISTFA proceedings and to the Microelectronic Failure Analysis Desk Reference, 4th Edition (updated).
Verlagsort | Ohio |
---|---|
Sprache | englisch |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Technik ► Maschinenbau | |
ISBN-10 | 0-87170-769-1 / 0871707691 |
ISBN-13 | 978-0-87170-769-7 / 9780871707697 |
Zustand | Neuware |
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