Charakterisierung von Leckstrompfaden in DRAM Speicherzellen und deren Reduktion
Seiten
2007
|
1., Aufl.
Cuvillier, E (Verlag)
978-3-86727-199-8 (ISBN)
Cuvillier, E (Verlag)
978-3-86727-199-8 (ISBN)
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Einbandart | kartoniert |
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Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Schlagworte | DRAM • HC/Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik • Leckstrom • Retention • Speicherzelle |
ISBN-10 | 3-86727-199-2 / 3867271992 |
ISBN-13 | 978-3-86727-199-8 / 9783867271998 |
Zustand | Neuware |
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